Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 14706:2000
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemické analýzy. Stanovení povrchové elementární kontaminace na křemíkových desek podle celkové - reflexe X - ray fluorescence ( TXRF ) spektroskopie
NORMA vydána dne 15.5.2001
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 14706:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.5.2001
Kód zboží: NS-110649
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
