Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.2.2020
Označení normy: BS ISO 14701:2018-TC
Datum vydání normy: 27.2.2020
Kód zboží: NS-987071
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under Review
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 11.08.2026 (Počet položek: 2 292 404)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.