Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.2.2020
Označení normy: BS ISO 14701:2018-TC
Datum vydání normy: 27.2.2020
Kód zboží: NS-987071
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under Review
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 14.07.2026 (Počet položek: 2 286 733)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.