Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Přeložit název
NORMA vydána dne 5.11.2018
Označení normy: BS ISO 14701:2018
Datum vydání normy: 5.11.2018
Kód zboží: NS-904572
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 51949 9 Status: Under Review
Poslední aktualizace: 14.07.2026 (Počet položek: 2 286 733)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.