Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 14701:2011
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie. Měření tloušťky oxidu křemičitého
NORMA vydána dne 31.8.2011
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 14701:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.8.2011
Kód zboží: NS-110647
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
