Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 14606:2000
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Prská hloubkové profilování. Optimalizace použití vrstvených systémů jako referenční materiály
NORMA vydána dne 15.1.2001
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 14606:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.1.2001
Kód zboží: NS-110599
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
