Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie. Stanovení koncentrace boru atomové v křemíku pomocí rovnoměrně dopované materiály
NORMA vydána dne 31.8.2010
Označení normy: BS ISO 14237:2010
Datum vydání normy: 31.8.2010
Kód zboží: NS-110432
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 57402 3 Status: Confirmed
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 12.06.2026 (Počet položek: 2 281 969)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.