Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 14237:2000
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.
Automaticky přeložený název:
Povrchová chemické analýzy. Sekundární - ion hmotnostní spektrometrie. Stanovení boru atomové koncentrace v křemíku pomocí jednotně dopovaných materiálů
NORMA vydána dne 15.4.2000
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 14237:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.4.2000
Kód zboží: NS-110431
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Doporučujeme:
