Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemická analýza. Mikroskopie atomárních sil. Postup pro in situ charakterizaci AFM profilu stopky sonda pro měření nanostruktur
NORMA vydána dne 31.8.2014
Označení normy: BS ISO 13095:2014
Datum vydání normy: 31.8.2014
Kód zboží: NS-110045
Počet stran: 36
Přibližná hmotnost: 108 g (0.24 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 67752 6 Status: Under Review
Poslední aktualizace: 04.05.2026 (Počet položek: 2 275 493)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.