Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS ISO 12406:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon.
Automaticky přeložený název:
Povrchu chemické analýzy. Sekundární-ion hmotnostní spektrometrie. Způsob hloubkové profilování arsenu v křemíku
NORMA vydána dne 30.11.2010
Informace o normě:
Označení normy: BS ISO 12406:2010
Datum vydání normy: 30.11.2010
Kód zboží: NS-109799
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS ISO 12406:2010 :
ISBN: 978 0 580 66874 6 Status: Confirmed
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
