Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence.
Přeložit název
NORMA vydána dne 7.9.2022
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 63068-4:2022
Datum vydání normy: 7.9.2022
Kód zboží: NS-1072128
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 63068-4:2022 :
ISBN: 978 0 539 18417 4 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
