Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using photoluminescence.
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.7.2020
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 63068-3:2020
Datum vydání normy: 24.7.2020
Kód zboží: NS-999494
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 63068-3:2020 :
ISBN: 978 0 539 02136 3 Status: Definitive
Doporučujeme:
