Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM.
Automaticky přeložený název:
Standardní pro společnou testovací rozhraní pin mapě konfiguraci s vysokou hustotou, jednovrstvých elektronika zkušebních požadavků s využitím IEEE Std 1505 $ uT $ uM
NORMA vydána dne 31.1.2016
Označení normy: BS IEC 63003:2015
Datum vydání normy: 31.1.2016
Kód zboží: NS-625347
Počet stran: 174
Přibližná hmotnost: 553 g (1.22 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 91106 4 Status: Definitive
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 04.11.2026 (Počet položek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.