Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 62880-1:2017
Semiconductor devices. Stress migration test standard. Copper stress migration test standard.
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.7.2020
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 62880-1:2017
Datum vydání normy: 21.7.2020
Kód zboží: NS-999493
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 62880-1:2017 :
ISBN: 978 0 580 85808 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
