Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 62373-1:2020
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET.
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.3.2023
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 62373-1:2020
Datum vydání normy: 30.3.2023
Kód zboží: NS-1138567
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 62373-1:2020 :
ISBN: 978 0 580 51373 2 Status: Definitive
Doporučujeme:
