Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 62047-35:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical devices.
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.4.2021
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 62047-35:2019
Datum vydání normy: 20.4.2021
Kód zboží: NS-1023048
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 62047-35:2019 :
ISBN: 978 0 580 99495 1 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
