Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 62047-31:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials.
Přeložit název
NORMA vydána dne 17.4.2019
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 62047-31:2019
Datum vydání normy: 17.4.2019
Kód zboží: NS-946012
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 62047-31:2019 :
ISBN: 978 0 580 96660 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
