Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS IEC 62047-27:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.7.2020
Informace o normě:
Označení normy: BS IEC 62047-27:2017
Datum vydání normy: 22.7.2020
Kód zboží: NS-999489
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS IEC 62047-27:2017 :
ISBN: 978 0 580 89909 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
