Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans. Early failure assessment.
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.10.2026
Označení normy: BS EN IEC 63287-4:2026
Datum vydání normy: 27.10.2026
Kód zboží: NS-1288801
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 34785 2 Status: Definitive
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 04.11.2026 (Počet položek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.