Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.
NORMA vydána dne 31.8.2010
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62418:2010
Datum vydání normy: 31.8.2010
Kód zboží: NS-99332
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 62418:2010 :
ISBN: 978 0 580 62610 4 Status: Definitive
Doporučujeme:
