Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška časově závislého průrazu dielektrika hradel.
NORMA vydána dne 31.10.2008
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62374:2007
Datum vydání normy: 31.10.2008
Kód zboží: NS-99287
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 62374:2007 :
ISBN: 978 0 580 54048 6 Status: Under Review
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
