Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.6.2011
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62374-1:2010
Datum vydání normy: 30.6.2011
Kód zboží: NS-964041
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Anotace textu normy BS EN 62374-1:2010 :
ISBN: 978 0 580 75206 3 Status: Definitive
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
