Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Automaticky přeložený název:
Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou.
NORMA vydána dne 29.9.2006
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62373:2006
Datum vydání normy: 29.9.2006
Kód zboží: NS-99285
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 62373:2006 :
ISBN: 0 580 49255 9 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
