Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 8: Zkušební metoda ohýbání proužku pro měření tahových vlastností tenkých vrstev.
NORMA vydána dne 30.6.2011
Označení normy: BS EN 62047-8:2011
Datum vydání normy: 30.6.2011
Kód zboží: NS-98861
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 60629 8 Status: Definitive
Poslední aktualizace: 29.10.2026 (Počet položek: 2 208 109)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.