Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 18: Metoda zkoušení ohybu tenkovrstvých materiálů.
NORMA vydána dne 31.10.2013
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62047-18:2013
Datum vydání normy: 31.10.2013
Kód zboží: NS-98850
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 62047-18:2013 :
ISBN: 978 0 580 72011 6 Status: Definitive
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
