Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 62047-16:2015
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové zařízení. Micro - elektromechanické zařízení. Zkušební metody pro stanovení zbytkových napětí z MEMS filmů. Oplatky zakřivení a konzolové metody odrazu paprsku
NORMA vydána dne 31.7.2015
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 62047-16:2015
Datum vydání normy: 31.7.2015
Kód zboží: NS-611421
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 62047-16:2015 :
ISBN: 978 0 580 78080 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
