Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 12: Metoda zkoušení ohybové únavy tenkovrstvých materiálů využívající rezonanční vibrace struktur MEMS.
NORMA vydána dne 30.11.2011
Označení normy: BS EN 62047-12:2011
Datum vydání normy: 30.11.2011
Kód zboží: NS-98847
Počet stran: 34
Přibližná hmotnost: 102 g (0.22 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 76301 4 Status: Definitive
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 29.10.2026 (Počet položek: 2 208 109)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.