Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.11.2016
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 60749-44:2016
Datum vydání normy: 30.11.2016
Kód zboží: NS-666655
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy BS EN 60749-44:2016 :
ISBN: 978 0 580 86203 8 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
