Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS EN 60749-38:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí.
NORMA vydána dne 30.6.2008
Informace o normě:
Označení normy: BS EN 60749-38:2008
Datum vydání normy: 30.6.2008
Kód zboží: NS-95961
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Kategorie - podobné normy:
Polovodičová zařízení obecně
Vysokonapěťové rozváděče a regulátory
Anotace textu normy BS EN 60749-38:2008 :
ISBN: 978 0 580 54875 8 Status: Definitive
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
