Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 37: Zkouška pádem osazené desky metodou používající měřič zrychlení.
NORMA vydána dne 30.5.2008
Označení normy: BS EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2008
Kód zboží: NS-95960
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Poslední aktualizace: 10.11.2025 (Počet položek: 2 243 715)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.