Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.
Automaticky přeložený název:
Harmonizovaný systém hodnocení kvality pro elektronické součástky : základní specifikace : rastrovací elektronový mikroskop kontrola polovodičových kostky
NORMA vydána dne 30.8.1985
Označení normy: BS CECC 00013:1985
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.8.1985
Kód zboží: NS-79967
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 23.09.2026 (Počet položek: 2 302 501)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.