NEPLATNÁ BS 5913:1980 31.3.1980 náhled

BS 5913:1980

Method of measuring and defining the characteristics of anti-scatter grids used in X-ray equipment.

Automaticky přeložený název:

Metoda měření a definování charakteristik anti- rozptylových sítí používaných v X -ray zařízení



NORMA vydána dne 31.3.1980


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena5858.90 bez DPH
5 858.90

Informace o normě:

Označení normy: BS 5913:1980
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.3.1980
Kód zboží: NS-72442
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.