Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Method of measuring and defining the characteristics of anti-scatter grids used in X-ray equipment.
Automaticky přeložený název:
Metoda měření a definování charakteristik anti- rozptylových sítí používaných v X -ray zařízení
NORMA vydána dne 31.3.1980
Označení normy: BS 5913:1980
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.3.1980
Kód zboží: NS-72442
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
Poslední aktualizace: 06.07.2025 (Počet položek: 2 207 474)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.