Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM P224
Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro stanovení Net Carrier sytosti na velkém a epitaxním křemíkových plátků pomocí rtuťovým Probe (Withdrawn 1992 )
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NA DOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: ASTM P224
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-58000
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
