Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro stanovení Net Carrier sytosti na velkém a epitaxním křemíkových plátků pomocí rtuťovým Probe (Withdrawn 1992 )
Jazyk | |
Provedení |
|
Dostupnost | SKLADEM |
Cena | NADOTAZ bez DPH |
NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM P224
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-58000
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Poslední aktualizace: 05.02.2025 (Počet položek: 2 224 044)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.