Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro stanovení Net Carrier sytosti na velkém a epitaxním křemíkových plátků pomocí rtuťovým Probe (Withdrawn 1992 )
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | do 1 pracovních dnů |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM P224
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-58000
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 10.03.2026 (Počet položek: 2 265 346)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.