NEPLATNÁ ASTM P224 1.1.1900 náhled

ASTM P224

Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro stanovení Net Carrier sytosti na velkém a epitaxním křemíkových plátků pomocí rtuťovým Probe (Withdrawn 1992 )




Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
CenaNADOTAZ bez DPH
NA DOTAZ

Informace o normě:

Označení normy: ASTM P224
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-58000
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.