Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1987)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro Interstitial obsah kyslíku Silicon Plátky počítačovými - Assisted Infrared Spektrofotometrie (Withdrawn 1987 )
Jazyk | |
Provedení |
|
Dostupnost | SKLADEM |
Cena | NADOTAZ bez DPH |
NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM P112
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-57912
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Poslední aktualizace: 12.03.2025 (Počet položek: 2 232 189)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.