Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1987)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro Interstitial obsah kyslíku Silicon Plátky počítačovými - Assisted Infrared Spektrofotometrie (Withdrawn 1987 )
Jazyk | |
Provedení |
|
Dostupnost | SKLADEM |
Cena | NA DOTAZ bez DPH |
NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM P112
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-57912
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 15.07.2024 (Počet položek: 2 330 983)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.