Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

ASTM F980-16(2024)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.1.2024

Jazyk
Provedení	PDF - okamžité stažení - 1 667.60 Kč Tištěné - 1 667.60 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1667.60 Kč bez DPH
1 667.60 Kč

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F980-16(2024)
Datum vydání normy: 1.1.2024
Kód zboží: NS-1162724
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Anotace textu normy ASTM F980-16(2024) :

Keywords:

annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

nody.cz - Splňte si svůj sen o vlatsním e-shopu

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.