Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F775-88
Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro Wafer a Slice Rovinnost interferometrickými (Withdrawn 1991 )
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F775-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-56407
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F775-88 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Doporučujeme:
