Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F77-69(1996)
Test Method for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application (Withdrawn 2001)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro hustotě keramiky pro elektronovou zařízení a aplikace Semiconductor (Withdrawn 2001 )
NORMA vydána dne 1.1.1996
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F77-69(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1996
Kód zboží: NS-56390
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F77-69(1996) :
Keywords:
Ceramic materials-electrical/electronic devices, Density-electronic applications, Electronic materials/applications-ceramics, apparent density of ceramics (for electron device/semiconductor, application), ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials), 81.060.20 (Ceramic products)
Doplňující informace
| 1. Scope |
|
1.1 This test method covers the determination of the apparent density of ceramic parts, used in electron device and semiconductor applications, with a maximum dimension of 25 mm (1 in.) and having zero or discontinuous porosity. 1.2 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values in parentheses are for information only. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability or regulatory limitations prior to use. |
Doporučujeme:
