Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F769-00
Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)
Automaticky přeložený název:
Standardní testovací metoda měření tranzistoru a diod svodové proudy (Withdrawn 2006 )
NORMA vydána dne 10.6.2000
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F769-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2000
Kód zboží: NS-56389
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F769-00 :
Keywords:
diode, junction leakage, leakage current, radiation testing, total radiation dose, transistor, ICS Number Code 31.080.10 (Diodes), 31.080.30 (Transistors)
Doplňující informace
| 1. Scope |
|
1.1 This test method covers the measurement of leakage currents of transistors and diodes. Electronic devices exposed to ionizing radiation may show increases in leakage current as the accumlated total dose rises. 1.2 These procedures are intended for the measurement of currents in the range from 10 -11 to 10 -3 A. 1.3 This test method may be used with either a virtual-ground current meter or a resistance-shunt current meter. 1.4 The values stated in International System of Units (SI) are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this test method. 1.5 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
