ASTM F744M-10

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro měření dávkového příkonu práh pro Rozrušená digitálních integrovaných obvodů [Metric]



NORMA vydána dne 1.5.2010


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1742.80 bez DPH
1 742.80

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F744M-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2010
Kód zboží: NS-56310
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F744M-10 :

Keywords:

DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset, Circuitry, Current measurement--semiconductors, Destructive testing--semiconductors, Dose rate threshold, Dosimetry, Electrical conductors (semiconductors), Electron linear accelerator, Flash X-ray machines (FXR), Irradiance/irradiation--semiconductors, Lasers and laser applications, Linear threshold voltage, Radiation exposure--electronic components/devices, Upset threshold, Voltage

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.