Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F637-85(1994)e1
Standard Specification for Format, Physical Properties, and Test Methods for 19 and 35 mm Testable Tape Carrier for Perimeter Tape Carrier-Bonded Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
Automaticky přeložený název:
Standardní specifikace pro formát , fyzikální vlastnosti a zkušební metody pro 19 a 35 mm Testovatelné Tape nosič pro Obvodové Tape Carrier vázané polovodičových součástek
NORMA vydána dne 1.1.2001
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F637-85(1994)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.2001
Kód zboží: NS-55973
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F637-85(1994)e1 :
Keywords:
lead carrier tape, 19-mm testable tape carrier, semiconductor devices, tape carrier bonding, 35-mm testable tape carrier
Doplňující informace
| 1. Scope |
|
1.1 This specification covers standard formats for testable semiconductor lead carrier tape suitable for hybrid applications. 1.2 This standard specifies tape width, configuration, and location of guide perforations ("sprocket holes"), location of lead pattern frames on tape, lead pattern window size, and placement of outer lead bond and electrical test pad areas in the lead pattern. 1.3 The values stated in inch-pound units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only. 1.4 The following hazard caveat pertains only to the test method portion, Section 7 of this specification. This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
Doporučujeme:
