ASTM F523-93(1997)

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces

Automaticky přeložený název:

Standardní praxe pro pouhým vizuální prohlídce leštěného křemíkového plátku povrchů



NORMA vydána dne 10.12.1997


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 954.70 bez DPH
1 954.70

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F523-93(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1997
Kód zboží: NS-55615
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F523-93(1997) :

Keywords:

Polished silicon wafers/slices, Visual examination-electronic components/devices, wafers (silicon)-polished, unaided visual inspection, practice,, Silicon semiconductors-slices/wafers, slices (polished)-unaided visual inspection, practice, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.