ASTM F523-02

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)

Automaticky přeložený název:

Standardní praxe pro pouhým vizuální prohlídce leštěná křemíkové desky Povrchy (Withdrawn 2003 )



NORMA vydána dne 10.12.2002


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 954.70 bez DPH
1 954.70

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F523-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Kód zboží: NS-55614
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F523-02 :

Keywords:

collimated light, defects, high-intensity light, particle, polished, silicon, visual inspection, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.