NEPLATNÁ ASTM F522-94 1.1.1900 náhled

ASTM F522-94

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro stohování Porucha Hustota epitaxních vrstev křemíku Interference - Contrast Microscopy (Withdrawn 1998 )




Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 719.20 bez DPH
1 719.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55613
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F522-94 :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.