Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F522-94
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro stohování Porucha Hustota epitaxních vrstev křemíku Interference - Contrast Microscopy (Withdrawn 1998 )
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55613
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F522-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Doporučujeme:
