Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F416-94
Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro detekci oxidace vyvolaných defektů z leštěného křemíkových plátků (Withdrawn 1998 )
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F416-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55222
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F416-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
