Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F416-94
Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro detekci oxidace vyvolaných defektů z leštěného křemíkových plátků (Withdrawn 1998 )
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F416-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-55222
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F416-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
