ASTM F398-92(1997)

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro většinu Carrier koncentrace v polovodičích pomocí měření vlnočet nebo vlnové délky plazmatu rezonance Minimální



NORMA vydána dne 10.6.1997


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 739.60 bez DPH
1 739.60

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F398-92(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.1997
Kód zboží: NS-55149
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F398-92(1997) :

Keywords:
Carrier concentration, Electrical conductors-semiconductors, Gallium arsenide, Germanium-semiconductor applications, Impurities-semiconductors, Infrared (IR) analysis-semiconductors, Minority carriers, Plasma resonance (wavelength), Reflectance and reflectivity-electronic materials/applications, Resonance wavelength, Silicon-semiconductor applications, Spectrophotometry-infrared (of semiconductors), Wavelength, majority carrier concentration in doped semiconductors, by measuring

Doporučujeme:

Aktualizace zákonů

Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.