ASTM F397-02

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro Resistivity křemíku pruhy pomocí dvoubodovým Probe (Withdrawn 2003 )



NORMA vydána dne 10.12.2002


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 925.20 bez DPH
1 925.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F397-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Kód zboží: NS-55147
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F397-02 :

Keywords:
polysilicon, resistivity, silicon, two-point probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.