ASTM F391-96

Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metody pro Minority Carrier Diffusion délka v Exogenní Semiconductors měřením ustáleného stavu povrchových Photovoltage



NORMA vydána dne 1.1.1996


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2005.90 bez DPH
2 005.90

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F391-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1996
Kód zboží: NS-55134
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F391-96 :

Keywords:

CMSPV (constant magnitude surface photovoltage) method, Diffusion length, Electrical conductors,emsemiconductors, LPVCPF (linear photovoltage/constant photon flux) method, Minority carriers, Silicon semiconductors, Single crystal silicon semiconductors, Surface analysis,emelectronic components/devices, Surface photovoltage (SPV), minority carrier diffusion length,emextrinsic single-crystal, semiconductors/homoepitaxial layers, by steady-state surface, photovoltage (SPV), test,,Order Form

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.