Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Evaluating the Reliability of Surface Mounted Device (SMD) Joints on a Flexible Circuit by a Rolling Mandrel Bend (Withdrawn 2024)
Automaticky přeložený název:
Standardní zkušební metoda pro hodnocení spolehlivosti zařízení pro povrchovou montáž ( SMD ) spáry na ohebném obvodu Rolling trnu Bend
NORMA vydána dne 1.6.2015
Označení normy: ASTM F3147-15
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2015
Kód zboží: NS-611394
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
bend, conductive adhesive, encapsulant, land-pad, mandrel, printed flexible circuit, SMD, staking compound,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
Significance and Use |
4.1 The existing Test Method F1995, while very useful, is difficult to conduct if an encapsulating dome is applied, and does not reveal the possible failures caused by mechanical stress incompatibility in the overall SMT joint. This mandrel bend test will reveal possible mechanical stress incompatibility between the various adhesives which can result in latent field failures during production handling or with thermal cycling in normal use. 4.2 The existing Test Method F2750 does not include specifics for SMD attachments and only addresses the conductivity change of the conductive trace. 4.3 The different combinations of SMD types, attachment medias, circuit substrates and process variation can account for significant variation in test outcome. 4.4 Bending of printed flexible circuit or their components can affect their visual appearance, mechanical integrity or electrical functionality. This test method simulates conditions that may be seen during manufacture, installation, or use. 4.5 Bend testing may be destructive, therefore any samples tested should be considered unfit for future use. |
1. Scope |
1.1 This test method covers a means to test a completed Surface Mounted Device (SMD) joint for bond strength and inter-layer stress compatibility 1.2 A completed SMD joint includes; SMD (LED, resistor, etc), PTF ink land (typically silver), conductive adhesive (typically silver), staking compound (non-conductive), and encapsulant (non-conductive). |
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 25.04.2024 (Počet položek: 2 896 007)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.