ASTM F2778-09

Standard Test Method for Measurement of Percent Crystallinity of Polyetheretherketone (PEEK) Polymers by Means of Specular Reflectance Fourier Transform Infrared Spectroscopy (R-FTIR)

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro měření Procento krystalinity Polyetheretherketon (PEEK) polymerů prostředky zrcadlové odrazivosti FTIR (R-FTIR)



NORMA vydána dne 15.11.2009


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 504.20 bez DPH
1 504.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F2778-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.11.2009
Kód zboží: NS-54520
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F2778-09 :

Keywords:
crystallinity, Fourier transmission infrared spectroscopy (FTIR), polyetheretherketone (PEEK), specular reflectance, ICS Number Code 83.080.20 (Thermoplastic materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.