ASTM F2358-04

Standard Guide for Measuring Characteristics of Sapphire Substrates

Automaticky přeložený název:

Standardní Průvodce pro měření Charakteristika Sapphire substráty



NORMA vydána dne 1.5.2004


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 691.30 bez DPH
1 691.30

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F2358-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2004
Kód zboží: NS-53668
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F2358-04 :

Keywords:
backside processing, compound semiconductors, flatness, form, front-to-front deviation (FFD), measurement, restrained, sag, sapphire, sapphire substrates, sori, taper, total thickness variation (TTV), unrestrained, ICS Number Code 25.100.70 (Abrasives)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.