Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1893-98(2003)
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
Automaticky přeložený název:
Příručka pro měření ionizujícího Dose - Rate Burnout polovodičových prvků
NORMA vydána dne 10.5.1998
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1893-98(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.5.1998
Kód zboží: NS-51995
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F1893-98(2003) :
Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||||
|
1.1 This guide defines the detailed requirements for testing microcircuits for short pulse high dose-rate ionization-induced failure. Large flash x-ray (FXR) machines operated in the photon mode, or FXR e-beam facilities are required because of the high dose-rate levels that are necessary to cause burnout. Two modes of test are possible (1) survival test, and (2) A failure level test. 1.2 The values stated in International System of Units (SI) are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard. |
||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
